產(chǎn)品說明
立管和旁通管的使用可以解決攪拌扇葉對導(dǎo)波探測組件造成的影響經(jīng)常見于化工反應(yīng)容器，比如石化行業(yè)。
當(dāng)然在這種測量環(huán)境中，導(dǎo)波雷達(dá)的測量具有很多的優(yōu)勢。
立管和旁通管能夠增強(qiáng)導(dǎo)波雷達(dá)接收信號的強(qiáng)度。
旁通管的側(cè)面連接開口，罐內(nèi)沉淀物或腐蝕性物質(zhì)對測量結(jié)果都不會有影響。
另外產(chǎn)品能夠在高達(dá)400℃的環(huán)境及40MP壓力下進(jìn)行測量，即使是標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品，也能夠在150℃的環(huán)境下進(jìn)行測量。
詳細(xì)參數(shù)
| 應(yīng) 用 |
高溫高壓液體測量 |
| 最大量程 |
30米 |
| 精 確 度 |
± 3mm |
| 過程連接 |
螺紋 G1?A／螺紋 1?NPT |
| 傳感器材質(zhì) |
不銹鋼316/陶瓷 |
| 過程溫度 |
石墨陶瓷：-196…280℃／石墨陶瓷：-196…400℃／石墨陶瓷：-196…450℃ |
| 過程壓力 |
(真空...40)MPa |
| 輸出信號 |
(4...20)mA/HART |
| 電 源 |
兩線制：DC24V／四線制：DC24V/AC220V |
對比非同類產(chǎn)品的產(chǎn)品優(yōu)勢
- 相對于超聲波原理儀表而言，導(dǎo)波式微波雷達(dá)物位計不受壓力變化、真空、溫度變化、惰性氣體、煙塵、
蒸汽等環(huán)境影響，測量結(jié)果穩(wěn)定可靠。可以在最高400℃，最大壓力40Mpa環(huán)境下工作。
- 相對于非接觸方式雷達(dá)物位計而言，導(dǎo)波式微波雷達(dá)物位計電磁波信號沿著探測組件(探桿或探測纜繩)進(jìn)行傳播，
所以受到測量環(huán)境中水蒸氣和粉塵等因素的影響較小。
沿著探測組件進(jìn)行傳播的微波信號對于波動的界面仍然具有同樣的反射性能，
所以幾乎不受物料波動影響。接觸性測量方式使得信號反射能力更強(qiáng)，可以測量介電常數(shù)更低的介質(zhì)。
接觸測量方式使得信號反射更可靠，從而不會出現(xiàn)失波現(xiàn)象。
- 相對于電容式物位計而言，無需空罐滿罐標(biāo)定，直接使用，現(xiàn)場操作簡便。
測量結(jié)果不受介電常數(shù)變化影響。
當(dāng)被測介質(zhì)是成分不清楚或者是成分比例隨時改變的混合物時，也能夠進(jìn)行可靠測量。
- 相對于磁翻板、磁致伸縮、重錘、鋼帶或浮球等液位計而言，
導(dǎo)波式微波雷達(dá)物位計不依賴機(jī)械運動進(jìn)行測量，沒有活動部件，可靠性高，壽命長。
對比同類產(chǎn)品的產(chǎn)品優(yōu)勢
- 儀表采用等效采樣脈沖測距專利技術(shù)，提高了信號的分辨率和靈敏度，
使儀表具有高精度、測量靈敏、刷新速度快等優(yōu)勢。
- 儀表液晶操作單元為128*64圖形點陣液晶，支持全中文菜單、
波形顯示等復(fù)雜操作功能。降低現(xiàn)場儀表操作難度和維護(hù)工作量。
- 液晶顯示單元可以外接25米，從而構(gòu)成罐旁操作單元。降低大型罐體、高溫、
高壓、有毒等高危險區(qū)域儀表日常巡檢工作的風(fēng)險和勞動強(qiáng)度。
- 國內(nèi)首家推出基于HART通訊的遠(yuǎn)程操作單元，可以外接1000米，
從而彌補(bǔ)傳統(tǒng)罐旁顯示操作單元在通訊距離上的不足。
- 國內(nèi)首家推出具有波形顯示功能雷達(dá)專用的HART手操器，
通過使用雷達(dá)專用的HART手操器可以實現(xiàn)在中控室直接觀察雷達(dá)波形并進(jìn)行調(diào)試，
大大降低現(xiàn)場調(diào)試的危險和勞動強(qiáng)度。
- 國內(nèi)首家推出具有無線通訊功能導(dǎo)波式微波雷達(dá)物位計，
可支持GPRS無線傳輸和CMesh多跳自組織無線組網(wǎng)傳輸。
是物位測量接入物聯(lián)網(wǎng)的首選產(chǎn)品。
測量原理
HGMW7X系列導(dǎo)波式微波雷達(dá)物位計是基于時間行程原理的電磁波測距系統(tǒng)。
儀表探頭發(fā)出的1GHz的微功率電磁波信號沿著探測組件(探桿或探測纜繩)以光速進(jìn)行傳播。
當(dāng)電磁波接觸到被測物質(zhì)表面時，由于介電常數(shù)發(fā)生突變，電磁波被反射回來。
反射回來的電磁波沿著探測組件傳播，并返回到儀表探頭。
電磁波的發(fā)射與接收的時間間隔與儀表探頭到被測介質(zhì)的距離成正比，
由此能夠計算出儀表探頭到被測介質(zhì)表面的距離。
